TOPCON拓普康近紅外分光輻射亮度計SR-NIR;
高精度測定微弱近紅外光
近年來,在顯示器及照明市場上,對“近紅外領域”的測定需求日漸增多。之前,行業內并沒有一款能夠簡便且高精度測定近紅外光的相關儀器。拓普康公司在通過開發生產SR系列分光輻射度計所培育并積累起來的技術基礎之上,開發出了“SR-NIR近紅外分光輻射度計”。本產品和其他型號的SR系列分光輻射度計一并使用,能夠測定380nm-1030nm的分光輻射亮度。
TOPCON拓普康近紅外分光輻射亮度計SR-NIR
特點:
能測定從FPD到微弱發光的近紅外領域。
高精度測定近紅外領域(600~1030nm)的分光分布。
和本公司其他型號的分光輻射度計一并使用時,能夠測定可見光~近紅外光(380~1030nm)的分光分布。
用途:
觀察各類FPD的近紅外領域的輸出
觀察Ne、Ar的光譜線輸出。
光學膜等的近紅外透過特性評價。
其他光源的近紅外分光測量。