表面粗糙度測量儀O178-635-02
表面粗糙度測量儀O178-635-02由北崎國際貿易（北京）有限公司供應三豐Mitutoyo全系列產品，并優勢提供報價。
Surftest （表面粗糙度測量儀）SJ-500P/SV-2100M4（PC型）
178系列- 帶有PC（個人電腦）
日本三豐 MITUTOYO 178-635-02 表面粗糙度測量儀
高精度、高性能表面粗糙度測試儀充分利用高級分析軟件優勢。SJ-500P是獨立單機，而SV-2100M4則是一種臺式設備，含手動精度立柱。
特點：
1、控制部件中的內置操縱桿使得定位快捷簡便。測量小孔內側時可使用手動旋鈕對細小測針的位置進行微調。
2、表面粗糙度測量條件的設置簡單易行。利用簡單的輸入功能可按ISO/JIS粗糙度標準計算繪圖指令符號。復雜的測量條件設置很容易輸入，只要由表面粗糙度菜單中選擇繪圖指令符號即可。
技術參數：SJ-500P
X軸（驅動部）
測量范圍：50mm
分辨率：0.05μm
長度基準：線性編碼器
驅動速度：0-20mm/s
測量速度：0.02-5mm/s
移動方向：向后
直線度：0.2μm/50mm
定位：±1.5°（傾角，有DAT功能），30mm（向上/向下）
檢測器：
范圍/分辨率：800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,8μm/0.0001μm
檢測方法：無軌/有軌測量
測力：參見性能參數表
測針針尖：參見性能參數表
導頭曲率半徑：40mm
類型：差動電感式
驅動裝置的控制：PC操作
技術參數：SV-2100M4（PC類型）
X軸（驅動部）
測量范圍：100mm
分辨率：0.05μm
長度基準：線性編碼器
驅動速度：0-40mm/s
測量速度：0.02-5mm/s
移動方向：向后
直線度：0.15μm/100mm
Z2軸（立柱）
類型：手動操作
垂直移動：350mm
檢測器：
范圍/分辨率：800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,8μm/0.0001μm
檢測方法：無軌/有軌測量
測力：參見性能參數表
測針針尖：參見性能參數表
類型：差動電感式
驅動裝置的控制：PC操作
評估能力：SURFPAK-SV
評估輪廓：P（原始輪廓），R（表面粗糙度輪廓），WC,WCA,WE,WEA,DIN4776輪廓，包絡殘余線，粗糙度motif,波形motif
評價參數：
Ra,Rq,Rz,Ry,Rz(JIS),Ry(DIN),Rc,Rp,Rpmax,Rv,Rvmax,Rvi,Rt,Rti,R3zi,R3y,Sm,S,Pc(Ppi),plateau ratio,mrd,Rpk,Rvk,δc,Rk,Mr1,Mr2,Lo,Ppi,R,AR,Rx,A1,A2,Vo,HSC,mr,SK,Ku,△a, △q,λa,λq,Lo,Lr,
粗糙度motif參數：RX,R,AR,SR,SAR,NR,NCRX,CPM
波形motif參數：W,AW SW,Wx,Wte,SAW,NW
分析圖表：ADC,BAC1,BAC2,功率譜圖,自相關圖，Walsh 功率譜圖，Walsh 自相關圖，傾斜分布圖，局部峰值分布圖，參數分布圖
濾波類型：2CR-75%,2CR-50%,2CR-75%(相位校正)，2CR-50%(相位校正)，高斯-50%
截止波長*
fh：0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm
λc：0.025mm,0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm
fl： 0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm
取樣長度*：0.025mm,0.08mm,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm,25mm
數據補償功能：拋物線補償、雙曲線補償、橢圓補償、R平面（曲面）補償、錐面補償、傾斜補償、二次曲線補償，多項式補償、多項式自動補償
*可在0.025至*移動長度間任意長度
性能參數：
型號
SJ-500P
SJ-500P
SV-2100M4
SV-2100M4
貨號*（mm）
-530-02
178-634-01
178-634-02
貨號*（inch）
-531-02
178-635-01
178-635-02
測針針尖
針尖角度
60°
90°
60°
90°
*半徑
2μm
5μm
2μm
5μm
檢測器測力
0.75mN
4mN
0.75mN
4mN
X軸測量范圍
50mm
100mm
垂直移動
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350mm手動立柱
花崗巖基座尺寸（W×D）
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600×450mm
尺寸（主機W×D×H）
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716×450×863mm
重量
6.5Kg（主機2.7 Kg PC連接裝置3.8 Kg）
144 Kg（主機140 Kg PC連接裝置3.8 Kg）
*為區分交流電源電纜，在貨號后加上以下后綴：A適于UL/CSA, D適于CEE,E適于BS，DC適于CCC， 無后綴適于JIS/100V
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