KQ-85-BACI膜厚計COTEC可泰KQ-85-BACI膜厚計COTEC可泰KQ-85-BACI膜厚計COTEC可泰KQ-85-BACI膜厚計COTEC可泰KQ-85-BACI膜厚計COTEC可泰 項目 內容 ベーシック
KQ-85-BACI プレミアム
KQ-85-PREM 測定モード 素地の自動選択(素地種を検知してFeモード/Nモードを自動切替) 個別測定(プローブ押し當てるごとに1回測定) 連続(スキャン)測定(プローブを押し當てている間は連続測定) ― リミット 上限下限設定 平均 平均表示 ― メモリー 記憶測定點數 100點まで 13,000點まで バッチ數 1 200
≦2,000點/バッチ バッチ名入力 ― バッチごと上限下限設定 ― 統計機能 平均/標準偏差/大値/小値 データ管理ソフト ▲オプション 付屬 ユーザー校正 ユーザー校正數(1點校正/2點校正) 1 100 ゼロ點平均化 ― 畫面表示 単位(µm/mil切替え) 表示分解能選択(粗い/標準/細かい) ― バックライドオートオフ機能 フリップディスプレイ(標準/スイッチ切替) 使用環境 使用時環境溫度(結露無きこと) 0～50℃ 0～50℃ 保管場所溫度(結露無きこと) ※直射日光?車內ダッシュボードなど不可 -10～60℃ -10～61℃ 防水性能 ― ― 電源 単3(AA)アルカリ乾電池×2本 KQ-85-F KQ-85-F5 KQ-85-N KQ-85-FN KQ-85-F5N 対象素地金屬 鉄素地用 鉄素地用 非磁性金屬 鉄/非磁性両用 鉄/非磁性両用 測定方法 磁力(磁束) 磁力(磁束) 渦電流 磁力/渦電流自動切替 磁力/渦電流自動切替 測定範囲 0～2,000µm 0～5,000µm 0～2,000µm Fe:０～2,000µm
NFe:0～2,000µm Fe:０～5,000µm
NFe:0～2,000µm 測定間隔 1.5秒 測定精度 ±1µm＋読取値2％ 0～2,000µm時
±1µm＋読取値2％
2,000µm～時
±読取値3.5％ ±1µm＋読取値2％ ±1µm＋読取値2％ 0～2,000µm時
±1µm＋読取値2％
2,000µm～時
±読取値3.5％ 小測定可能面 直徑φ20mm 小測定可能半徑
(曲面に対して) 凸面：曲率半徑5mm
凹面：曲率半徑5mm 素地小厚み 0.2mm 0.2mm 0.05mm Fe:0.2mm
NFe:0.05mm Fe:0.2mm
Nfe:0.05mm 使用時環境溫度 0～50℃(結露無きこと) 保管場所溫度 -10～60℃(結露無きこと) 大きさ L60×W26×H22mm
ケーブルモジュールを除く 重さ(電池込) 12g KQ-85-FT 対象素地金屬 鉄素地用 測定方法 電磁誘導 測定範囲 0～500µm 測定間隔 1.6秒 再現精度 ±0.1µm＋読取値0.8％ 測定精度 ±0.3µm＋読取値2％ 小測定可能面 直徑φ7mm 小測定可能半徑
(曲面に対して) 凸面：曲率半徑4mm
凹面：曲率半徑5mm 小素地厚み 0.4mm 使用環境溫度 0～50℃(結露無きこと) 保管場所溫度 -10～60℃(結露無きこと) 大きさ L120×W12×H12mm
(接続ケーブルを除く) 重さ 95g
產品搜索
京ICP備12051490號 
